口腔正畸学：研究牙、合、颌、面畸形的方法颌面正畸和口腔正畸

在口腔颅面形态学中常用的研究分析方法有头面部测量、照片测量，牙合石膏模型测量分析、云纹影像分析和X线头影测量等，无论哪种测量分析，均需要建立理想的标准，作为诊断的参照标准或尺度，这种参照标准是有种族差异的，所以应该建立本民族的理想标准。一般不宜相互替代。

一、头面部测量技术

该技术是一种传统的古老分析方法，简而易行。具体方法主要是使用软卷尺，两脚规等工具对人的头面都（活体）直接进行项目分析。

二、牙合石膏模型的测量分析

通过该模型的测量、观察分析，可了解上下齿槽座的丰满程度，牙弓的长度、宽度牙齿排列情况，牙量骨量之间的协调性，上下颌牙齿量的比例关系以及覆盖、覆合等情况。

三、照片测量

照片获取容易，软组织结构显示清晰，在容貌研究中仍有一定的应用价值，有人利用照片研究面部比例及形态结构特征，但普通照片由于不能显示软硬组织关系及不能提供三维结构信息，定量研究价值颇受限制。

四、云纹影像分析技术

云纹影像法，又称莫尔条纹法（Mores topogrphy），是1970由英国人Meadnus和日木本人高琦宏分别发明的新光测技术，其基木原理是光线通过基准光栅，投投射于凹凸不平的物体表面，产生随物体表面形态改变的变形光栅；变形光栅包含了物体表面的三维结构信息。这一非接触三维测量分析方法具有与立体摄影一样的测量精度，而造价远低于立体摄影，可综合采用电子计算机正、侧位X线头影测量技术及可拍正位，双侧侧位和斜位的五个位置的云纹摄影仪，对人群的颅、颌面软硬组织结构进行分析研究。

五、X线头影测量法

X线头影测量是对牙颌畸正确诊断的重要手段之一。只有诊断准确，才能制订出矫治牙颌畸形的矫治方案和治疗计划，过去往往只用牙合石膏记存模型对错合进行分析，但仅如此就不够全面，模型只能分析诊断上下颌骨间与牙马之间的关系，以及牙量骨量不调等情况，而对牙弓、颌骨与颅骨的关系未能显示出来；如模型上具有深覆盖、深覆合患者，到底是上颌前突、下颌正常，还是上颌与颅骨关系是正常而仅仅是下颌后缩，也许是上颌既前突、下能也后缩，所以必须进行X线头影测量才能做出确切的诊断。虽然模型错合情况都是深覆盖，但当用X先头影测量分析时，就可显示颅、颌关系的差异，就可诊断出到底是上颌异常，还是下颌异常，或许是上下颌均异常。于是矫治计划就应有所不同，所以X线头影测量是诊断牙颌畸形的重要手段。

X线头影测量技术是Broadbent于本世纪20年代初致力研究的，1931年发表了著名的论著，他首先使用头颅定位仪并提出用定位头颅X线片进行X线头影测量才能准确诊断牙颌畸形的类型，为制定正确的治疗方案提出科学的依据。同年Hofrah在德国也发表了此测量技术的文章。