X线头影测量的主要应用x线头影测量的主要应用有哪些

X线头影测量的主要应用，最重要的应用便是研究颅面生长发育，帮助医生做牙颌、颅面畸形的诊断分析，确定错牙合畸形的矫治设计，研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化，外科正畸的诊断和矫治设计、下颌功能分析等。想让你的正畸治疗专业而准确，它将是你最好的帮手。那么，问题来了，你真的了解它并懂得如何使用吗？为了帮助大家更好地了解X线头影测量的主要运用，北京正畸培训中心编辑整理了一些相关知识，供大家参考学习。

研究颅面生长发育：X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段，一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析，从横向研究颅面生长发育，同时也可用于 对个体不同时期的测量分析，而作颅面生长发育的纵向研究。

由于X线头颅照像是严格定位的，因而系列的X线头颅片具有可靠的可比性。Brodie1941年 以 X线头影测量，对出生后3个月至8岁的儿童的颅面生长发育作了纵向研究，所得出的头影生长图迹重叠图，至今仍广为应用。Enlow提出并为大家所推崇的颅 面生长发育新理论，也是以X线头影测量作为研究手段。林景榕在60年代中亦以X线头影测量对我国儿童的颅面生长发育作了横向研究。林久祥、张兴中等在90 年代中纵向研究分析了我国儿童的颅面生长发育。通过颅面生长发育的X线头影测量研究，明确了颅面生长发育机制，快速生长期的年龄、性别间差异，以及颅面生 长发育的预测。

牙颌、颅面畸形的诊断分析：通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析，可了解畸形的机制、主要性质及部位，是骨骼性畸形抑或牙 合性畸形，使对畸形能作出正确的诊断，而这种诊断的依据，来源于明确了颅面软硬组织各部分间的相互关系。而对于牙颌、颅面畸形的诊断分析基础，又首先必须 通过X头影测量对正常合人颅面结构进行分析，得出正常合人各项测量的参考标准，并应用到对畸形的诊断分析中去。

确定错合畸形的矫治设计：从X线头影测量分析研究中得出正常 合关系可存在于各种不同的颅面骨骼结构关系中，而一些牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到稳定，因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后，根据错合的机制，可 确定颌位及牙齿矫治的理想位置，从而制定出正确可行的矫治方案。

研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化：X线头影测量亦常用作评定矫治过程中，牙颌、颅面形态结构发生的变化，从而了解矫正器的作用机制和 矫治后的稳定及复发情况。如关于口外支抗唇弓矫正器及下颌颏兜矫正器等对牙颌、颅面结构的作用及变化，都是在使用X线头影测量以后才得以明确和澄清的。